Campusleben_HAW_Hamburg_15

Lehrende_HAW_Hamburg_32

Studierende_HAW_Hamburg_5

Informationen für:

Fakultät Technik und Informatik
Department Informatik
Fakultät Technik und Informatik

Publikationen aus dem Department Informatik

Autor:  
Alle : A, B, C, D, E, F, G, H, I, J, K, L, M, N, O, P, Q, R, S, T, U, V, W, Y, Z 
  
 
Präferenzen: 
Referenzen pro Seite: Zeige Schlüsselwörter Zeige Zusammenfassung
Referenzen

2018

Tagungs-/Konferenz-/Katalogbeiträge:

default
Cenk Gündogan, Peter Kietzmann, Thomas C. Schmidt und Matthias Wählisch
HoPP: Publish--Subscribe for the Constrained IoT
Information-Centric Networking
Boston, MA
Proc. of 5th ACM Conference on Information-Centric Networking (ICN), Demo Session
ACM
Verlag: ACM Digital Library, New York, NY, USA
default
Cenk Gündogan, Peter Kietzmann, Thomas C. Schmidt und Matthias Wählisch
ICN-LoWPAN: Header Compression for the Constrained IoT
Information-Centric Networking
Boston, MA
Proc. of 5th ACM Conference on Information-Centric Networking (ICN), Poster Session
ACM
Verlag: ACM Digital Library, New York, NY, USA
pdf
Cenk Gündogan, Peter Kietzmann, Martine Lenders, Hauke Petersen, Thomas C. Schmidt und Matthias Wählisch
NDN, CoAP, and MQTT: A Comparative Measurement Study in the IoT
Information-Centric Networking
Boston, MA
Proc. of 5th ACM Conference on Information-Centric Networking (ICN)
ACM
Verlag: ACM Digital Library, New York, NY, USA
default
Nico Hinze, Marcin Nawrocki, Mattijs Jonker, Alberto Dainotti, Thomas C. Schmidt und Matthias Wählisch
On the Potential of BGP Flowspec for DDoS Mitigation at Two Sources: ISP and IXP
SIGCOMM
Budapest
Proc. of ACM SIGCOMM. Poster Session , Seite 57--59.
Association of the Computing Machinery
Verlag: ACM Digital Library, New York, NY, USA
default
Andreas Reuter, Randy Bush, Italo Cunha, Ethan Katz-Bassett, Thomas C. Schmidt und Matthias Wählisch
Towards a Rigorous Methodology for Measuring Adoption of RPKI Route Validation and Filtering
IETF
Montreal, CA
Proceedings of the Applied Networking Research Workshop aus ANRW '18 , Seite 7--7.
Verlag: ACM Digital Library, New York, NY, USA
ISBN: 978-1-4503-5585-8
default
Peter Kietzmann, Cenk Gündogan, Thomas C. Schmidt und Matthias Wählisch
A PUF Seed Generator for RIOT: Introducing Crypto-Fundamentals to the Wild
ACM MobiSys
München
Proc. of 16th ACM International Conference on Mobile Systems, Applications (MobiSys), Poster Session
ACM
Verlag: ACM Digital Library, New York, NY, USA
default
Cenk Gündogan, Peter Kietzmann, Thomas C. Schmidt, Martine Lenders, Hauke Petersen, Matthias Wählisch, Michael Frey und Felix Shzu-Juraschek
Demo: Seamless Producer Mobility for the Industrial Information-Centric Internet
ACM MobiSys
München
Proc. of 16th ACM International Conference on Mobile Systems, Applications (MobiSys), Demo Session
ACM
Verlag: ACM Digital Library, New York, NY, USA
default
Sebastian Meiling, Dorothea Purnomo, Julia-Ann Shiraishi, Michael Fischer und Thomas C. Schmidt
MONICA in Hamburg: Towards Large-Scale IoT Deployments in a Smart City
European Conference of Networks and Communication Systems (EuCNC)
Proc. of 27th European Conference of Networks and Communication Systems (EuCNC) , Seite 224--229.
Verlag: IEEE,
default
Andrej Zieger, Felix Freiling und Klaus-Peter Kossakowski
The ?-Time-to-Compromise Metric for Practical Cyber Security Risk Estimation
International Conference on IT Security Incident Management & IT Forensics (IMF)
Hamburg
7-9. Mai 2018
Harald Baier Holger Morgenstern (Hrsg.) Proceedings of the 11th International Conference on IT Security Incident Management & IT Forensics (IMF2018) Band 11th / 2018 , Seite 115-133.
Verlag: IEEE,
English
default
Andrej Zieger, Felix Freiling und Klaus-Peter Kossakowski
The beta-Time-to-Compromise Metric for Practical Cyber Security Risk Estimation
International Conference on IT Security Incident Management & IT Forensics (IMF)
Hamburg
7-9. Mai 2018
Harald Baier Holger Morgenstern (Hrsg.) Proceedings of the 11th International Conference on IT Security Incident Management & IT Forensics (IMF2018) Band 11th / 2018 , Seite 115-133.
Verlag: IEEE,
English
Seite:  
Zurück | 1, 2, 3, 4, 5, 6, ... , 59 | Weiter
Total:
586
Export als:
BibTeX, XML

Letzte Änderung: 21.05.15

An die Redaktion